硅鋼片鐵損測試儀在使用的時(shí)候要特別注意到這幾點(diǎn)的要求：

　　1、選擇正確的測試條件。元器件廠(chǎng)商給出的器件參數值所代表的是在規定的測量條件下能達到的性能，以及允許出現的偏差值。

　　2、選擇合適測量治具。測量治具也是LCR測試儀的重要組成部分，對于封裝方式多樣化的元器件，LCR也有多種測量治具選擇。

　　3、正確的零點(diǎn)校正。硅鋼片鐵損測試儀的零點(diǎn)漂移會(huì )隨著(zhù)測試條件的變換或者是測試治具的不同而產(chǎn)生改變，所以開(kāi)路以及短路的零點(diǎn)校正非常必要。所以硅鋼片鐵損測試儀都有開(kāi)路和短路校正的設置。

　　另外我們在選擇硅鋼片鐵損測試儀的時(shí)候，應該盡量選質(zhì)量比較好的。